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褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察

周丽芳 朱臻宇 吴玉田 柴逸峰 曹颖瑛

周丽芳, 朱臻宇, 吴玉田, 柴逸峰, 曹颖瑛. 褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察[J]. 药学实践与服务, 2003, (6): 336-337.
引用本文: 周丽芳, 朱臻宇, 吴玉田, 柴逸峰, 曹颖瑛. 褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察[J]. 药学实践与服务, 2003, (6): 336-337.

褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察

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出版历程
  • 收稿日期:  2003-10-28

褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察

摘要: 目的 研究褶合光谱模式识别系统杂质检查能力。方法 采用高斯函数模拟样品和杂质的吸收光谱,求出各杂质在主成分存在下的检测限。结果 得出了杂质检测限随物质相关性变化的分布趋势。结论 褶合光谱模式识别系统是一种高分辨率的杂质检查手段。

English Abstract

周丽芳, 朱臻宇, 吴玉田, 柴逸峰, 曹颖瑛. 褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察[J]. 药学实践与服务, 2003, (6): 336-337.
引用本文: 周丽芳, 朱臻宇, 吴玉田, 柴逸峰, 曹颖瑛. 褶合光谱模式识别系统对样品中杂质检查能力的考察[J]. 药学实践与服务, 2003, (6): 336-337.

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